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Post, Regina: Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.

EAN-Nummer: 9783839619179


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Post, Regina: Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.

Anbieter: Averdo Allrounder 3

Post, Regina: Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.
Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.

Anbieter-Kategorie: Bücher & Zeitschriften > Zeitschriften

Preis: 84,00 Euro (+ Versandkosten 0,00 Euro)

ID: 23767449415

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